透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope,簡稱TEM），是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而産生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦後在成像器件上顯示出來。

技術原理：

技術服務流程：

       1、樣本接收：經電鏡固定液固定标本

       2、 實驗步驟：包埋、制片、雙染

       3、顯微鏡下觀察結果、拍照分析

技術優勢：

       透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱爲亞顯微結構或超微結構。這是一種高分辨率(0.1nm-0.2nm)、高放大倍數(幾千-幾十萬倍)的顯微鏡，是觀察和研究物質超微結構的重要工具。

客戶提供：

       1、樣本：電鏡固定标本

輝園苑提供：

       1、電鏡拍照圖片

       2、完整實驗報告